飛行時間二次離子質(zhì)譜法（TOF-SIMS）是一種高度靈敏的表面分析技術(shù)，可揭示樣品頂部幾個原子層的質(zhì)譜數(shù)據(jù)。Kore 很榮幸成為 Innovia Films 的 TOF-SIMS 供應(yīng)商，Innovia Films 是一家材料科學(xué)公司，為包括標(biāo)簽、包裝以及錢幣在內(nèi)的各種產(chǎn)品生產(chǎn)基礎(chǔ)膜。

Innovia Films 與 Kore 接洽，要求研究其高度差異化的雙向拉伸聚丙烯 （BOPP） 薄膜的不同表面處理。Kore 設(shè)計(jì)的 SurfaceSeer 儀器成為 Kore 后續(xù) TOF-SIMS 儀器的基礎(chǔ)，并為 Innovia 提供了所需的功能。該儀器安裝在Innovia的研發(fā)設(shè)施中，在此后的日常使用中一直被用于研究和提供產(chǎn)品質(zhì)量保證。他們du*特的“氣泡工藝"對近四層樓高的巨大管狀薄膜氣泡充氣，然后對其進(jìn)行加熱、拉伸、軋制和工程設(shè)計(jì)，以創(chuàng)造高度復(fù)雜的印刷、紋理、耐用的錢幣和其他塑料產(chǎn)品。

“氣泡工藝"用于生產(chǎn) Innovia 的專業(yè)薄膜產(chǎn)品，包括錢幣。巨大的氣泡被充氣到近四層樓的高度。

項(xiàng)目經(jīng)理 Vitalija Kendall 主要使用 TOF-SIMS 儀器來尋找表面的任何類型的污染。她解釋說：“污染經(jīng)常被轉(zhuǎn)化為聚二甲基硅氧烷 （PDMS），其中一些化合物的存在會導(dǎo)致材料性能問題，例如油墨粘附性和適印性。這些失敗可能會導(dǎo)致投訴，從而導(dǎo)致經(jīng)濟(jì)損失。SurfaceSeer S 是防衛(wèi)投訴的主力軍。

該儀器是在 Kore 定制設(shè)計(jì)的，以滿足 Innovia 的價格預(yù)算。“對于我們制造的同性質(zhì)薄膜，僅使用光譜法的 TOF-SIMS 可以滿足我們 99% 的要求。主要源包括一個聚焦到 ~100um 的 5keV Ar 離子束，具有 30eV 電子電荷中和功能，以允許分析我們的絕緣膜。樣品抽真空時間為 1-2 分鐘，數(shù)據(jù)采集時間僅為 2-5 分鐘，我們每天可以分析大量樣品。我們的實(shí)驗(yàn)室里還有其他表面技術(shù)，但沒有一種技術(shù)具有如此的表面敏感性。

Kore 和 Innovia 密切合作，確保儀器成功運(yùn)行并最大限度地減少停機(jī)時間。這種緊密的售后支持證明了 Kore 對世界各地努力工作的客戶和儀器的持久關(guān)懷。“Kore 在應(yīng)用程序、性能、問題解決和知識傳授方面提供了出色的支持，"Vitalija 說。

項(xiàng)目經(jīng)理 Vitalija Kendall 說：“Kore 了解我們的需求，并與我們合作提供適合用途的儀器，使 Innovia Films 擁有原本無法具備的分析能力。這為 Innovia Films 提供了市場優(yōu)勢。